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DualScope FMP20兩用法測(cè)厚儀
點(diǎn)擊次數(shù):2034 更新時(shí)間:2017-08-04

DualScope FMP20兩用法測(cè)厚儀

DUALSCOPE FMP20涂鍍層測(cè)厚儀享譽(yù)的手提式儀器和插拔式探頭的新一代產(chǎn)品問(wèn)世了,可以用來(lái)無(wú)損、高精度測(cè)量涂鍍層厚度。從我們的新產(chǎn)品系列中選擇一款含智慧型探頭的涂鍍層測(cè)厚儀可以滿(mǎn)足您特定的測(cè)量需求。新一代手提式儀器FMP20配上種類(lèi)繁多的插拔式探頭提供的測(cè)量。除了用戶(hù)只能創(chuàng)建一個(gè)應(yīng)用程式外,這些儀器操作簡(jiǎn)單、堅(jiān)固耐用,幾乎適合每一種涂鍍層的測(cè)厚要求,這些應(yīng)用包括廣泛的噴涂工件和特殊的復(fù)雜涂層。DUALSCOPE FMP20系列也具有一般的統(tǒng)計(jì)評(píng)估功能。

雙功能FMP20 該通用型號(hào)為磁感應(yīng)和渦流方式提供自動(dòng)的基板材料識(shí)別功能。 這兩個(gè)單元都能夠測(cè)量鐵/鋼,非鐵磁金屬和非導(dǎo)電載體材料等眾多涂層。 Dualscope FMP20型號(hào)的附加功能包括多達(dá)20,000個(gè)讀數(shù)的擴(kuò)展內(nèi)存,多達(dá)100個(gè)可校準(zhǔn)應(yīng)用程序,塊的日期和時(shí)間戳,帶有高斯圖形的直方圖的圖形顯示以及自動(dòng)基材識(shí)別功能。

•外部按鍵觸發(fā)測(cè)量采集
•超過(guò)公差限制時(shí)的視覺(jué)和視覺(jué)警告
•選項(xiàng)藍(lán)牙或COM附加可用于默認(rèn)USB接口

磁感應(yīng)測(cè)量原理

采用磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀,原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當(dāng)軟芯上繞著線(xiàn)圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí),儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭,測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小,儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層厚度。近年來(lái)的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù),利用磁阻來(lái)調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路,引入微機(jī),使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高(幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí))。現(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀,分辨率達(dá)到0.1um,允許誤差達(dá)1%,量程達(dá)10mm。

磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來(lái)測(cè)量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護(hù)層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

電渦流測(cè)量原理

高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線(xiàn)圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí),就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小,也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類(lèi)測(cè)頭專(zhuān)門(mén)測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱(chēng)之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線(xiàn)圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較,主要區(qū)別是測(cè)頭不同,信號(hào)的頻率不同,信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣,渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。

  采用電渦流原理的測(cè)厚儀,原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量,如航天航空器表面、車(chē)輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性,通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量,但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體,但這類(lèi)任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適。

 

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