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Olympus測厚儀的設(shè)置方法和校準(zhǔn)方法
點(diǎn)擊次數(shù):6008 更新時(shí)間:2019-09-04
  Olympus測厚儀可以使用所有單晶和雙晶探頭進(jìn)行操作。Olympus測厚儀會(huì)自動(dòng)識(shí)別標(biāo)準(zhǔn)雙晶探頭,還會(huì)自動(dòng)導(dǎo)入適當(dāng)?shù)捻斚榷x的設(shè)置。預(yù)先定義的設(shè)置中包含隨儀器附送的不銹鋼階梯試塊的超聲聲速。在使用雙晶探頭時(shí),需要進(jìn)行探頭零位補(bǔ)償。對(duì)于單晶或高穿透軟件選項(xiàng),以及單晶探頭,需要手動(dòng)調(diào)用適當(dāng)?shù)脑O(shè)置。測厚儀出廠時(shí)已根據(jù)用戶所購探頭配置了默認(rèn)設(shè)置,這些設(shè)置使用隨機(jī)附送的不銹鋼試塊的大約聲速。為便于用戶使用,Olympus測厚儀中的默認(rèn)狀態(tài)已被選好。
 
  Olympus測厚儀校準(zhǔn):
 
  校準(zhǔn)是使用已知探失,在特定的溫度下,針對(duì)某種材料,以進(jìn)行測量為目的而對(duì)儀器進(jìn)行調(diào)整的過程。在檢測某種特殊材料之前,經(jīng)常需要校準(zhǔn)儀器。測量度與儀器進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)的度*相同。
 
  需要進(jìn)行以下三種類型的校準(zhǔn):
 
  探頭零位補(bǔ)償〔[零位補(bǔ)償]鍵)
 
  只用于雙晶探頭,校準(zhǔn)聲束在每個(gè)雙晶探頭延遲塊中的傳播時(shí)間。這個(gè)補(bǔ)償值針對(duì)不同的探頭有所不同,且隨溫度而變化。啟動(dòng)測厚儀、更換探頭或探頭溫度有顯著變化時(shí),必須進(jìn)行探頭零位補(bǔ)償。
 
  材料聲速校準(zhǔn)([校準(zhǔn)聲速]鍵)
 
  校準(zhǔn)材料聲速需使用一個(gè)帶有己知厚度且材料與被測上件相同的厚試塊進(jìn)行,或者以手動(dòng)方式輸入一個(gè)以前確定的材料聲速。測量每一種新材料時(shí),都需進(jìn)行這項(xiàng)操作。
 
  零位校準(zhǔn)([校準(zhǔn)零位]鍵)
 
  進(jìn)行零位校準(zhǔn)需使用一個(gè)帶有己知厚度且材料與被測上件相同的薄試塊。與探頭零位補(bǔ)償和材料聲速校準(zhǔn)不同的是,零位校準(zhǔn)操作只有在需要高精度時(shí)才有必要進(jìn)行(度高于±0.10毫米)。只需在使用新的探頭和材料組合時(shí)進(jìn)行一次零位校準(zhǔn)。當(dāng)探頭溫度變化時(shí),不需要重復(fù)零位校準(zhǔn),但要進(jìn)行探頭零位補(bǔ)償。
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