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費希爾測厚儀xdl 210的詳細資料:
費希爾測厚儀xdl 210
菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀簡介:憑借電機驅(qū)動(可選)與自上而下的測量方向,XDL 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準直器以及探測器不同組合的多種型號,從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。比較XUL和XUM儀器而言,XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設計為用戶友好的臺式機,使用模塊化結構,也就是說它們可以配備簡單支板,各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求.
配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面,這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品,當測量門開啟時,XY工作臺自動移動到加載位置,同時激光點指示測量點位置。對于大而平整的樣品,例如線路板,殼體在側面有開口(C形槽).由于測量室空間很大,樣品放置方便,儀器不僅可以測量平面平整的物體,也可以測量形狀復雜的大樣品(樣品高度可達140mm . Z軸可電動調(diào)整的儀器,測量距離還可以在0- 80 mm的范圍內(nèi)自由選擇,這樣就可以測量腔體內(nèi)部或表面不平整的物體(DCM方法)。
特性:
- ■X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合,可完成各種測量任務
- ■由于測量距離可以調(diào)節(jié)(大可達 80 mm),適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件
- ■通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸(可選)實現(xiàn)自動化的批量測試
- ■使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器,非常適用于測量超薄鍍層(XDAL 設備)
應用:鍍層厚度測量
- ■大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
- ■電路板上較薄的導電層和/或隔離層
- ■復雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層
- ■鉻鍍層,如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
- ■氮化鉻 (CrN)、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測量
- 材料分析
- ■電鍍槽液分析
- ■電子和半導體行業(yè)中的功能性鍍層分析
菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀設計理念:
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據(jù)樣品平臺的運行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的Z 軸系統(tǒng)來設定不同型號的儀器以滿足實際應用的需求。XDL210:平面樣品平臺,固定的Z 軸系統(tǒng),篤摯儀器正規(guī)代理。
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能,可以定位測量位置。通過視頻窗口,還可以實時觀察測量過程和進度。配有馬達驅(qū)動X-Y 樣品平臺的儀器還配備了激光點,可以輔助定位并快速對準測量位置。測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設計,可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如大型的線路板。所有的操作,測量數(shù)據(jù)的計算,以及測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示都是通過強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。
篤摯儀器擁有經(jīng)驗豐富的質(zhì)量控制團隊,各類性能優(yōu)異,效率高,耐用性和成本效益高的測量儀器,廣受客戶青睞的進口儀器品牌,和正規(guī)代理資質(zhì)。
型號說明: